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詠繹電子科技(蘇州)有限公司
FRA5087頻率特性分析儀儀器測量要求
點擊次數:363 更新時間:2024-03-14
  FRA5087頻率特性分析儀是一種高精度的測量設備,用于測量被測對象的頻率響應特性;具備以下特點和功能:
  1.頻率范圍:覆蓋從超低頻0.1mHz到高頻10MHz,適合進行寬頻帶的頻率響應分析。
  2.測量點數:能夠進行一次掃描最多達20000點的高密度測量,這提供了非常細致的頻率分辨率。
  3.采樣功能:具備對數等間隔采樣和在測量值急劇變化區(qū)間自動精細采樣的功能,這使得它能夠在關鍵頻率范圍內提供更詳細的數據。
  4.分辨率:具有高分辨率,達到0.1mHz,這意味著它能夠精確地測量和記錄頻率變化。
  5.精度:振幅精度為±0.05dB,相位精度為±0.3°,這樣的精度水平對于需要精確測量的應用場景來說是非常有利的。
  6.動態(tài)范圍:動態(tài)范圍達到140dB,這允許它在不同的信號強度下都能保持準確的測量。
  7.顯示功能:可以顯示伯德圖、尼奎斯特圖、尼科爾斯圖、科爾-科爾圖等多種圖表,方便用戶從不同角度分析數據。
  為了確保FRA5087頻率特性分析儀準確的測量結果,以下是一些測量要求:
  1.信號電纜的選擇:在進行高頻條件下的精確相位測量時,應確保連接到各信道輸入的信號電纜是同一種類且長度相同。
  2.電壓測量注意事項:使用高電壓進行測量時,需要注意安全和設備的相關指導原則。
  3.頻率范圍:該設備的頻率范圍覆蓋從超低頻到高頻,能夠進行一次掃描最多達20000點的高密度測量。
  4.分辨率:設備具有高分辨率,可以達到0.1mHz,以確保測量的準確性。
  5.采樣功能:具備對數等間隔采樣和在測量值急劇變化區(qū)間自動精細采樣的功能。
  6.噪聲抑制:利用數字傅里葉積分方式的噪聲抑制特性,以提高測量的精度。

蘇州詠繹主營:R&S(羅德與施瓦茨)、EEC(華儀)、GWinstek(臺灣固緯)、HIOKI(日本日置)、NF(日本恩乃普)、AMETEK(California Instruments、Sorensen、ELGAR、AMREL)等品牌電子測量儀器
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