4339B毫歐表的詳細(xì)資料:
毫歐表4339B
特點(diǎn):
- ·測試信號(hào)電流低且可選擇:1μA~10mA
·測量范圍寬:10μΩ~100kΩ
·分辨率:10μΩ
·接觸檢查功能
·1kHz交流測量
·測量速度高:34ms
·內(nèi)設(shè)比較器
·自動(dòng)測量方式
在低電流電路中,機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(hào)(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號(hào)消除了由熱電對(duì)被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號(hào)是檢查電池內(nèi)阻的方法,因?yàn)樗苊饬酥绷髂芰康南摹?
- 高速測量
高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)構(gòu)成一個(gè)測量系統(tǒng),使生產(chǎn)測試時(shí)間縮短到zui低限度。
- 自動(dòng)測量方式
在進(jìn)行大量連續(xù)的測試、而測試信號(hào)電平又不是很主要的因素時(shí),自動(dòng)測量功能會(huì)使儀器選擇合適的測試信號(hào)并設(shè)定測量范圍。
- 技術(shù)指標(biāo):
?。ㄈ娴募夹g(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料)
- 測量功能
測量參數(shù):R(交流電阻),X(電抗),L(電感),|Z|(阻抗),θ(相位[°])
組合參數(shù):R,R-X,R-L,|Z|-θ(只適用于串聯(lián)模式)
數(shù)學(xué)功能:偏差和相對(duì)偏差(以百分比表示)
顯示數(shù)字:3.4或5位(可選擇)
測試信號(hào)特性
測試頻率:1kHz
頻率精度:±0.1%
測試信號(hào)電平:1μA,10μA,100μA,1mA,10mArms
電平精度:±(10%+0.2μA)
樣品兩端的zui大電壓:在任何情況下zui大為20mV峰值
- 測量范圍
參數(shù) 測量范圍
R 10μΩ~100kΩ
X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)
L 10nH~10H(典型值)
θ -180°~+180°(典型值)
測量精度:R的基本精度為±0.4%
測量時(shí)間:從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測量(EOM)信號(hào)輸出的時(shí)間間隔
模式 時(shí)間(典型值)
短 34ms
中等 70ms
長 900ms
- - 修正功能
短路誤差為0:消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差
- 比較功能
對(duì)每個(gè)一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限
- 接觸檢查功能
可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障
- 其它功能
疊加直流:在測量端可能給出±42Vdc(zui大值)
存儲(chǔ)/調(diào)用:可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器對(duì)10種儀器設(shè)置進(jìn)行存儲(chǔ)/調(diào) 用
連續(xù)存儲(chǔ)功能:若儀器被切斷或發(fā)生電源故障,儀器設(shè)置將自動(dòng)被存 儲(chǔ)起來(在23±5℃時(shí)≤72小時(shí))
HP-IB接口:所有控制設(shè)置、被測值和比較器信息
處理器接口:所有輸出信號(hào)為負(fù)邏輯,光隔離開路集電極
輸出信號(hào)包括:高/符合/低、變址,測量結(jié)束和告警。輸入信號(hào)是健鎖定和外觸發(fā)
- 一般指標(biāo)
電源要求:198~264V,47~66Hz,45VAmax
工作溫度:0°~45℃
尺寸:320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)
重量:4.5kg
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